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故障測試儀之-HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀分析

發(fā)布時間:2022-07-11 點擊量:635

故障測試儀之-HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀

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使用 TLP(傳輸線脈沖)的設(shè)備的抗擾度測試儀。
使用ESD槍的符合IEC64000-4-2的設(shè)備的抗擾度測試儀很常見,但是當(dāng)它們到達LSI時,它們會產(chǎn)生振動波形,因此當(dāng)它們向正方向擺動時會因振動而發(fā)生故障。向負(fù)方向擺動時無法區(qū)分故障和故障的問題。
在該測試儀中,通過將矩形波直接施加到具有低阻抗的 LSI 的引腳上,可以區(qū)分正故障和負(fù)故障。
通過使用可選的同步單元,可以很好地再現(xiàn)故障事件。
例如,在 CPU 的情況下,通過在 ROM/RAM/IO 訪問的定時施加脈沖噪聲,可以在每個定時進行抗擾度測試。
此外,方波易于建模作為模擬信號源,并有望作為分析工具。

如下圖所示,將連接器插入電源或GND線,連接應(yīng)用探頭,設(shè)置應(yīng)用電壓和應(yīng)用次數(shù)。圖中,過濾器在外部,過濾器前面的一側(cè)在設(shè)備內(nèi)部。由于本設(shè)備不具備檢測 LSI 故障的功能,因此需要通過在被測設(shè)備上安裝監(jiān)視器 LED 來采取一些措施來檢測故障。
使用同步單元時,需要將來自LSI的同步信號輸入同步單元。

HIT-5000