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高分子材料測試用氧化劣化評估設(shè)備介紹

發(fā)布時間:2024-12-17 點擊量:42

高分子材料測試用氧化劣化評估設(shè)備介紹

高分子材料在環(huán)境中逐漸氧化并開始劣化。
該裝置采用未有的方法對材料的氧化進行定量,
從而可以定量評估氧化劣化。

如今,使用比原生料氧化程度更高的回收料,即使原材料相同,也會因工藝不同而導(dǎo)致成品性能差異,甚至因批次不同而導(dǎo)致成品性能差異。即使材料相同,這也是分析除耐候性以外涉及氧化的因素(例如性能差異)的非常有效的方法。

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測量原理

◆傳統(tǒng)的化學(xué)發(fā)光法通過捕獲人類不可見的光來檢測氧化變質(zhì)
 ,主要在約數(shù)千小時后進行評估,直到達到設(shè)備可以檢測到的水平。
 該設(shè)備最早可以在幾個小時后檢測到變化,具體取決于材料和惡化速度。

 

 

通過捕獲上面顯示的光發(fā)射,您可以獲得以下結(jié)果。

 

 

?通過在空氣中加熱樣品,過氧化物分解并檢測到“第一個峰"。
 該第一個峰對應(yīng)于測量時的過氧化物的量。
- 最終,它將達到平衡狀態(tài)。此時的強度稱為平衡發(fā)射強度(IS)。
- 如果樣品添加了穩(wěn)定劑,穩(wěn)定劑會阻擋它,但一旦消耗,樣品本身就會發(fā)生氧化,發(fā)光強度會增加。
?第2個峰值的起點被稱為氧化誘導(dǎo)時間(OIT),可以根據(jù)該OIT評價樣品的氧化穩(wěn)定性。
 還可以通過 IS(平衡發(fā)射強度)評估樣品的氧化穩(wěn)定性。


陣容

◆高靈敏度型

產(chǎn)品名稱/型號名稱

超弱發(fā)光檢測光譜儀

CLA-FS5

超弱發(fā)光檢測光譜儀

CLA-ID5

外部的
檢測方法

單光子計數(shù)法

使用光電倍增管(Photomultiplier)

檢測波長300nm至650nm(中心波長420nm)
冷卻方式

一次冷卻:帕爾貼元件二次冷卻:水冷

測量項目

①發(fā)光亮度(次/秒)

② 發(fā)射光譜
(380nm至660nm/20nm分辨率)

發(fā)射亮度(計數(shù)/秒)

最短測量時間

(閘門時間)

0.1秒、1秒、10秒
光譜濾光片

內(nèi)置15張

(380nm至660nm:每20nm)

沒有任何

觸摸屏

顯示項目

① 發(fā)光量 ② 樣品室溫度 ③ 樣品室設(shè)定溫度 ④ 狀態(tài) ⑤ GateTime ⑥ 報警

⑦詳情 ⑧樣品室開/關(guān)狀態(tài) ⑨快門開/關(guān)狀態(tài)

通訊功能USB 端口 (1) 使用專用程序
尺寸/重量

523.5(寬)×411.5(深)×547(高)毫米

約60公斤

310(寬)×420(深)×524(高)毫米

約35公斤

 

◆成像功能型

產(chǎn)品名稱/型號名稱

弱發(fā)光圖像測量裝置

CLA-IMG5

瞬時光譜測量裝置

共軛亞油酸SP3

外部的
檢測方法背照式幀傳輸CCD相機
檢測波長400-800nm(中心波長600nm)
冷卻方式風(fēng)冷
有效像素數(shù)1024 x 1024 像素1600 x 200 像素
解決

空間分辨率:約150μm×150μm

(選項:約10μm)

波長分辨率:約1nm
測量項目

發(fā)光圖像

發(fā)射亮度(圖像選擇范圍內(nèi))

發(fā)射光譜測量
接觸時間30毫秒~120分鐘0.01 至 10,000 秒
鏡片25mm F0.95(C接口)入口狹縫寬度:0.1/0.5/1.0mm
內(nèi)置快門內(nèi)置機械快門沒有任何
通訊功能IEEE1394bUSB
尺寸/重量

310(寬)×446(深)×775(高)毫米

約30公斤

310(寬)×420(深)×524(高)毫米

約35公斤

應(yīng)用

◆耐候性評價
  PDF下載:
三種不同類型PP材料的耐候性評價用CLA-FS5型測定
  PDF下載:再生材料原料的評價及共混比的確定

  ◆下載PFD 以確定添加劑的有效性:在短時間內(nèi)預(yù)測抗氧化劑等處方藥的有效性

  ◆下載PFD ,對儲存物料進行合格/不合格判斷:量化自然氧化,有效利用物料,減少浪費