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產(chǎn)品型號(hào):
所屬分類(lèi):光源
產(chǎn)品時(shí)間:2024-09-07
簡(jiǎn)要描述:日本santec可變波長(zhǎng)光學(xué)元件掃描測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)結(jié)合可變波長(zhǎng)光源(TSL系列),功率計(jì)(MPM),偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件,在研發(fā)和生產(chǎn)線上對(duì)IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測(cè)量和評(píng)估你能行的。
日本santec可變波長(zhǎng)光學(xué)元件掃描測(cè)試系統(tǒng)
掃頻測(cè)試系統(tǒng)
通過(guò)結(jié)合可變波長(zhǎng)光源(TSL系列),功率計(jì)(MPM),偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件,在研發(fā)和生產(chǎn)線上對(duì)IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測(cè)量和評(píng)估你能行的。
多站測(cè)量
通過(guò)將掃頻測(cè)試系統(tǒng)與多分支單元相結(jié)合,可以進(jìn)一步提高檢查和評(píng)估的效率。
總覽
掃頻測(cè)試系統(tǒng)結(jié)合了可變波長(zhǎng)光源(TSL系列),多端口功率計(jì)(MPM系列),偏振控制單元(PCU-100)和軟件,是光學(xué)設(shè)備和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)研發(fā)的理想選擇。這是一個(gè)評(píng)估工具。通過(guò)實(shí)時(shí)參考可變波長(zhǎng)光源的輸出功率同時(shí)獲取通過(guò)DUT傳輸?shù)墓夤β?,可以高精度地測(cè)量IL / WDL / PDL。該系統(tǒng)使用穆勒矩陣方法來(lái)計(jì)算PDL。
特性
WDL(與波長(zhǎng)有關(guān)的損耗)測(cè)量
80 dB或更高的高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量
我們的可變波長(zhǎng)光源TSL系列配備了具有創(chuàng)新設(shè)計(jì)的諧振器,可減少ASE光學(xué)噪聲,同時(shí)實(shí)現(xiàn)很高的信噪比和很高的光學(xué)輸出功率。因此,該系統(tǒng)可以同時(shí)評(píng)估具有高動(dòng)態(tài)范圍特性的光學(xué)組件的多個(gè)端口的特性。
下圖分別顯示了CWDM濾波器和陷波濾波器(例如FBG)的測(cè)量數(shù)據(jù)。
波長(zhǎng)精度高+/- 3 pm
由于TSL系列標(biāo)配了波長(zhǎng)監(jiān)視器,因此可以高精度地測(cè)量光學(xué)組件。
下圖顯示了乙炔(12C2H2)氣體吸收線的測(cè)量波長(zhǎng),可以看出以*的測(cè)量精度可以進(jìn)行測(cè)量。
波長(zhǎng)分辨率低于0.1 pm
該系統(tǒng)不僅可以用于WDM的光學(xué)組件,而且可以用于窄線寬濾光片,以高波長(zhǎng)分辨率測(cè)量WDL和PDL。
該圖是超高Q容量設(shè)備的測(cè)量結(jié)果,您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率進(jìn)行測(cè)量。
運(yùn)用
配置示例
1. PDL(極化相關(guān)損耗)測(cè)量
2. WDL(波長(zhǎng)相關(guān)損耗)測(cè)量 ??
3. WDL(波長(zhǎng)相關(guān)損耗)測(cè)量(其他公司的功率計(jì))
日本santec可變波長(zhǎng)光學(xué)元件掃描測(cè)試系統(tǒng)
多站點(diǎn)檢測(cè)
在多站測(cè)量系統(tǒng)中,可變波長(zhǎng)光源,偏振控制器和多分支單元用作服務(wù)器,并且光和觸發(fā)信號(hào)從它們分支并發(fā)送到每個(gè)站。每個(gè)站僅包含一個(gè)功率計(jì)和一臺(tái)PC。
在測(cè)量期間,服務(wù)器的可變波長(zhǎng)光源連續(xù)掃描預(yù)定范圍。因此,每個(gè)站可以隨時(shí)獨(dú)立于其他站進(jìn)行測(cè)量。
這樣,該系統(tǒng)可以在保持高精度特性的同時(shí)進(jìn)一步提高檢查和評(píng)估的效率。