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臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

產(chǎn)品型號：

所屬分類：超聲波測厚儀

產(chǎn)品時間：2024-09-10

簡要描述：日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S
實現(xiàn)高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進行測量
僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）

詳細說明：

日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S


產(chǎn)品特點

  • 實現(xiàn)高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）

  • 不易受溫度變化的影響

  • 可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。

  • 反射型允許從薄膜的一側(cè)進行測量

  • 僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）

  • 模型飛行時間
    測量方法非接觸式/光譜干涉式
    測量對象電子和光學用透明平滑膜、多層膜
    測量原理光譜干擾型

    日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

  • 產(chǎn)品規(guī)格
    測量厚度1～50μm（薄材料）、10～150μm（厚材料）　　　　
    測量長度50-5000 毫米
    測量間距1 毫米 ~
    最小顯示值0.001微米
    電源電壓AC100 V 50/60 Hz
    工作溫度限制5～45℃（測量時溫度變化1℃以內(nèi)）
    濕度35-80%（無冷凝）
    測量區(qū)域φ0.6 毫米
    測量間隙約 30 毫米




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